[1]陈龙康,王筠华,孙葆根,等.中国800MeV电子储存环的头尾不稳定性研究[J].深圳大学学报理工版,2003,20(4):46-51.
 CHEN Long-kang,WANG Jun-hua,SUN Bao-gen and JIN Yu-ming.Head-tail Instability of 800 MeV Electron Storage Ring of China[J].Journal of Shenzhen University Science and Engineering,2003,20(4):46-51.
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中国800MeV电子储存环的头尾不稳定性研究()
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《深圳大学学报理工版》[ISSN:1000-2618/CN:44-1401/N]

卷:
第20卷
期数:
2003年4期
页码:
46-51
栏目:
生命科学
出版日期:
2003-10-30

文章信息/Info

Title:
Head-tail Instability of 800 MeV Electron Storage Ring of China
文章编号:
1000-2618(2003)04-0046-06
作者:
陈龙康1王筠华2孙葆根2金玉明2
1.深圳大学理学院,深圳 518060;
2.中国科技大学国家同步辐射实验室,合肥 230029
Author(s):
CHEN Long-kang1WANG Jun-hua2SUN Bao-gen2 and JIN Yu-ming2
1.Dept. of Applied Physics Shenzhen University, Shenzhen 518060, P. R. China;
2.National Synchrotron Radiation Lab. USTC, Hefei 230029, P. R. China
关键词:
头尾不稳定性清除电极频率散度
Keywords:
head-tail clearing electrode tune spread
分类号:
O 572.211;TL 501
文献标志码:
A
摘要:
从理论上和实验上论证了我国800MeV电子储存环的头尾不稳定性阈值流强比国内外同类加速器高出近百倍的原因. 指出这是由于真空室中清除电极产生的八极矩分量使得粒子自由振荡频率有一个分散性,提供了足够的朗道阻尼的结果.
Abstract:
It is proved theoretically and experimentally that a much higher current threshold of the head-tail instability of the 800 MeV electron storage ring of China is caused by the tune spread of betatron oscillation.
更新日期/Last Update: 2015-11-13